東芝、半導体などの検品AIを開発 画像から異常検知
AI
東芝は14日、半導体などの製造過程で製品の外観画像から異常を検知する人工知能(AI)を開発したと発表した。独自のディープラーニング(深層 …
引用先はこちら:東芝、半導体などの検品AIを開発 画像から異常検知
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